主要用于Functional Test的IC測(cè)試（常溫、高溫、低溫）分類的機(jī)械產(chǎn)品，高產(chǎn)能、穩(wěn)定性高,尤其在小尺寸產(chǎn)品測(cè)位上表現(xiàn)突出，根據(jù)客戶的不同產(chǎn)品要求可選擇1、2、4、8、12、16、32測(cè)試位。
用于Functional Test 的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同環(huán)境（常溫、高溫），進(jìn)行8site 并行測(cè)試分選。
用于Functional Test 的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同的溫度（常溫、高溫、低溫）環(huán)境下，進(jìn)行16site 并行測(cè)試分選?？蓪?shí)現(xiàn)高精度的溫度控制。
用于Function Test的料管式包裝的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。最多支持16工位同測(cè)、支持常溫、高溫測(cè)試要求。
用于Function Test的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性、高精度溫度控制等特征。最多支持16工位同測(cè)，支持常溫、高溫、低溫測(cè)試要求。
